Новини

Уебинар за оптични симулации в Ansys Speos с формат AxF и продуктите на X-Rite
23 Април / 2025 г.

Уебинар за оптични симулации в Ansys Speos с формат AxF и продуктите на X-Rite

На 29 април 2025 от 17 часа и 22 часа можете да гледате двете последователни сесии на уебинар на тема Стратегии за материал с X-Rite AxF в Speos (Advanced Material Strategies with X-Rite AxF in Speos). Уебинарът е подходящ за специалисти от областта на оптичния дизайн и фотониката.

Съвместимост с екосистемата от скенери X-Rite

Софтуерното решение Ansys Speos представи поддръжка на AxF (Appearance eXchange Format), която интегрира богати набори от данни за външния вид на материалите директно в симулациите, водещи до изключително реалистични резултати. 

Функцията оптимизира работните процеси, като предлага съвместимост с екосистемата от скенери X-Rite, включително преносимия MA-T12, което помага за опростяване на процеса на управление и споделяне на данни за външния вид на материалите.

Постигането на реалистично възпроизвеждане на материалите с точни физически характеристики е изключително важно за дизайна на оптични системи.

Какво представлява системата за оптична симулация Ansys Speos?

Софтуерното решение за оптичен дизайн Ansys Speos симулира оптичното представяне на дадена система и оценява окончателния ефект на осветление, като симулира възприятието от човешкото око. 

Софтуерът съдейства за оценката на външния вид на продуктите при различни видове светлина, симулира възприятието на цветове, текстури и ефекти на отразяване от човешкото око, ускорява разработването на продукти от областта на оптичния дизайн.   

Какво можете да видите в уебинара за софтуерното решение Ansys Speos и партньорството с X-Rite

Партньорството на Ansys с X-Rite улеснява процеса, при който в оптичните симулации могат да се използват стандартизирани за индустрията файлове на материали, сканирани с продукти на X-Rite.

В този уебинар можете да видите последните обновления в системата Ansys Speos 2025 R1, включително поддръжката на формата AxF (Appearance eXchange Format), който подобрява реалистичността на оптичните симулации и дава точни данни за външния вид на материала. 

Форматът AxF съдържа детайлни визуални свойства и осигурява реалистичното визуално възпроизвеждане на материалите, с което е полезен при процеса на оценка на качеството в индустрии като автомобилната, транспортната и потребителската електроника.

Съвместимостта със сканиращата екосистема на X-Rite, включително преносимия спектрофотометър MA-T12, позволява на инженерите да управляват и споделят данни за материалите, което подпомага съвместната работа и улеснява вземането на решения за дизайна по-рано в процеса на разработка.  

Вижте повече за специалния спектрофотометър X-Rite MA-T12

X-Rite MA-T12 е многоъгълен преносим спектрофотометър с 12 точки на измерване. Той служи за измерването и характеризирането на материали с много сложни ефекти и е създаден специално за най-изискващите производства, които имат нужда да измерват, описват и комуникират данни, свързани с много сложни ефекти в материалите.

Запишете се за уебинара на Ansys за работата с X-Rite AxF в софтуерното решение за оптична симулация Ansys Speos.


Разгледай още Спектрофотометри, измервателни и контролни уреди за цвят и цветопредаване